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王小姐 
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供应KEYENCE基恩士原装 LK-H027 激光位移传感器 特价
型号
LK-H027
光源
类型
红色半导体激光
波长
655nm
激光等级 (JIS C6802)
2 类
输出
0.95mW
光点直径 (在参考距离时)
25μm×1400μm
线性度
±0.02% F.S. (F.S.=6 mm)*1
重复精度
0.02 μm (0.01 μm)*2
采样周期
2.55/5/10/20/50/100/200/500/1000 μs(可选择 9 种级别)
温度特征
0.01% F.S./°C (F.S.=6 mm)
安装模式
漫反射型
参考距离
20mm
测量范围
±3 mm*3
环境耐性
防护等级
IP67
环境照明
白炽灯或荧光灯： 10000 lux
环境温度
0 至 +50℃
相对湿度
35% 至 85%RH (无结露)
抗振性
10 至 55Hz 双振幅1.5mm X、Y、Z 方向各2个小时
材料
铝铸外壳
重量
约 230 g
*1 该值是指 KEYENCE 标准目标物 (仅用于 LK-H008/LK-H008W 的白色漫反射工件或带有金属镜面的工件) 在正常测量模式下的测量值。
[超高精度] 分辨率:0.25 μm
*2 该值是指 KEYENCE 标准目标物 (仅用于 LK-H008/LK-H008W 的白色漫反射工件或带有金属镜面的工件) 在测量平均值设为 16384 的参考距离下的测量值。括号内的值 是在测量平均值设为 65536 且取样周期为 200 μs 时的典型测量值。
*3 取样周期在 20 μs 以上时的测量范围。
[超小尺寸] 微型传感头尺寸:2 mm
[超前技术] 测量原理:分光干涉法
同时控制 6 个传感头
多重计算
控制器配有 6 个不同的输入输出接口
易于使用的数据收集专用 PC 软件
SI-F80R 系列
分光干涉式晶片厚度计
全新
即使是已封胶的晶片亦能测出其厚度
即使已贴附背面研磨带也可测量晶片厚度
将图案的影响降到
可在生产线上进行测量
自动映射整个晶片的厚度分布
LT-9000 系列
表面扫描激光共焦位移计
高精度表面扫描方式可测量各类目标
高精度表面扫描方式
0.3 μm 的出色分辨率
快速轻松的设置功能
适用于各种应用的多种测量模式
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